主　题：Why Design for Test (DFT) and Where It Goes
主讲人: 赖李洋博士（美国Calypto Design Systems 公司研究员）
时　间：4月14日（周一）下午3:00
地　点：工学院学术交流室（工南312）

欢迎电子系的老师、研究生和本科生，以及其他有兴趣的师生参加！
 

讲座摘要及主讲嘉宾简介.docx